Surface Analysis

Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 15 jan 2011, 18:32

Haha mr ion gun is er toch ook by auger dus das toch gn voordeel vn xps ofzo. Of wat bedoelde je met sprayen?
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Gebruikersavatar
yoachim
Prof in de forumwetenschappen
Prof in de forumwetenschappen
Berichten: 7725
Lid geworden op: 29 nov 2007, 20:44
Locatie: Halle

Re: Surface Analysis

Berichtdoor yoachim » 15 jan 2011, 18:35

Ruben schreef:Haha mr ion gun is er toch ook by auger dus das toch gn voordeel vn xps ofzo. Of wat bedoelde je met sprayen?

nee, gewoon da bart zei dat ge met u hoek aan te passen u analysis depth kunt aanpassen, ma met sprayen ook. Ma is idd ook bij auger
Afbeelding
like a bouws
Afbeelding
Ur mom is so fat she doesn't need the internet, she's already world wide
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 15 jan 2011, 18:37

Mr angle resolved zou toch ook by auger kunnen. Daar is het interactie vol ook afh vn de hoek
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Gebruikersavatar
yoachim
Prof in de forumwetenschappen
Prof in de forumwetenschappen
Berichten: 7725
Lid geworden op: 29 nov 2007, 20:44
Locatie: Halle

Re: Surface Analysis

Berichtdoor yoachim » 15 jan 2011, 18:41

Ruben schreef:Mr angle resolved zou toch ook by auger kunnen. Daar is het interactie vol ook afh vn de hoek

zou kunnen zijn ja

ma mss zijn de photoelektronen iets energierijker, zodat er ietsjes dieper ook e- eruit kunnen komen zodat door u hoek aan te passen u effect zichtbaarder is dan bij de extreem surface sensitive augere-
Afbeelding
like a bouws
Afbeelding
Ur mom is so fat she doesn't need the internet, she's already world wide
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 15 jan 2011, 21:52

yoachim schreef:
Ruben schreef:Mr angle resolved zou toch ook by auger kunnen. Daar is het interactie vol ook afh vn de hoek

zou kunnen zijn ja

ma mss zijn de photoelektronen iets energierijker, zodat er ietsjes dieper ook e- eruit kunnen komen zodat door u hoek aan te passen u effect zichtbaarder is dan bij de extreem surface sensitive augere-

Mja mr auger was ook in heeft ook een nanometer resolutie. En de voorwaarde voor die angle resolved XPS was dat het een heel dun nanolaagje moest zijn. Dus binnen de depth resolutie. Bon ja tkan wel juist zijn, ik weet het niet.
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Bart Mus
IRW-FAN!
IRW-FAN!
Berichten: 338
Lid geworden op: 06 jan 2009, 21:56

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Bart Mus » 16 jan 2011, 14:55

AR XPS is omdat je XPS inderdaad een veel dieper interactie volume hebt, dus ga je door tilten dit volume verkleinen en meer informatie uit surface halen.
Auger is (zie slide interaction volume) de absolute toplaag 5-75 angstom!, maar laten we praktisch tot een nanometer nemen
En dat heeft inderdaad te maken met het feit dat je electronen bij auger zeer weinig energie hebben (wat ook reden UHV is)
"Sakujo!"
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 16 jan 2011, 15:47

Bart Mus schreef:AR XPS is omdat je XPS inderdaad een veel dieper interactie volume hebt, dus ga je door tilten dit volume verkleinen en meer informatie uit surface halen.
Auger is (zie slide interaction volume) de absolute toplaag 5-75 angstom!, maar laten we praktisch tot een nanometer nemen
En dat heeft inderdaad te maken met het feit dat je electronen bij auger zeer weinig energie hebben (wat ook reden UHV is)

Auger slide 50: surface of depth resolution: 0.4-5nm
XPS slide 8: few nanometers
Dus met een resolutie tot 5 nm is het miss wel mogelijk met Auger. Mr dat zal afhangen van het materiaal enzo miss.
Mr vergeet niet dat bij XPS ook lage energie electronen worden gemeten hè. In les werd gezegd dat Auger en XPS qua depth resolutie vergelijkbaar waren.
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Bart Mus
IRW-FAN!
IRW-FAN!
Berichten: 338
Lid geworden op: 06 jan 2009, 21:56

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Bart Mus » 16 jan 2011, 17:57

Auger is enkel voor geleidende materialen dus zit het materiaal er inderdaad voor iets tussen.
Maar als XPS gewoon al dezelfde resolutie haalt, waarom zou je dan nog AR XPS nodig hebben?
"Sakujo!"
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 16 jan 2011, 18:14

Omte weten welk laagje vn boven ligt. Als je recht op sample meet, meet je pieken voor metaal en het oxide mr weet je niet welk vn boven ligt. Ok by een oxide laag is het wel logisch meestal :p
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Gebruikersavatar
yoachim
Prof in de forumwetenschappen
Prof in de forumwetenschappen
Berichten: 7725
Lid geworden op: 29 nov 2007, 20:44
Locatie: Halle

Re: Surface Analysis

Berichtdoor yoachim » 16 jan 2011, 19:27

Bart Mus schreef:Auger is enkel voor geleidende materialen dus zit het materiaal er inderdaad voor iets tussen.
Maar als XPS gewoon al dezelfde resolutie haalt, waarom zou je dan nog AR XPS nodig hebben?


kdenk dat da bij auger dan ook wel mogelijk moet zijn, met zelfde resultaten als bij AR XPS dan...
Afbeelding
like a bouws
Afbeelding
Ur mom is so fat she doesn't need the internet, she's already world wide

Terug naar “Chemie en Materialen”

Wie is er online

Gebruikers op dit forum: Geen geregistreerde gebruikers en 1 gast

cron