Surface Analysis

Bart Mus
IRW-FAN!
IRW-FAN!
Berichten: 338
Lid geworden op: 06 jan 2009, 21:56

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Bart Mus » 14 jan 2011, 20:08

Hoezo, ik verwar AFM en STM? Op slide 17 staat er toch two modes: attractive and repulsive, die aanleiding geeft tot repulsive mode en non contact mode (voor zover dat ik die zijn slides begrijp, want heb alles zowat doornomen maar vraag me dus niet meer wat er staat want studeren kan je toch niet uit die slides * zucht* 3de jaar op rij dezelfde melding in de teveredenheidsenquete)
Met steep end ik bedoel ik dat je de metingen gaat doen daar waar de variatie van de potentiaal met de afstand het grootste is en niet rond r0 aangezien je daar geen eenduidig resultaat kan bekomen, dus eigenlijk bij voorkeur op afstanden < r0
"Sakujo!"
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 14 jan 2011, 20:25

Attractive forces zyn long range. Dus ge kunt dn niet met een heel kleine resolutie werken want je wordt beïnvloed dr atomen ook ver weg. Mr wel gn shear.
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 14 jan 2011, 21:50

Vraag:

Moet het materiaal voor XPS geleidend zijn? Want we meten electronen dus ik veronderstel van wel. Of is dat enkel vn belang als je primary beam electronen zijn?
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 14 jan 2011, 21:53

Bart Mus schreef:Hoezo, ik verwar AFM en STM?

Yoa heeft volgens mij gewoon niet goed je antwoord gelezen ;)
want ik zie niet in waarom je beide zou verwarren...
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Bart Mus
IRW-FAN!
IRW-FAN!
Berichten: 338
Lid geworden op: 06 jan 2009, 21:56

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Bart Mus » 15 jan 2011, 11:58

Ruben schreef:Moet het materiaal voor XPS geleidend zijn? Want we meten electronen dus ik veronderstel van wel. Of is dat enkel vn belang als je primary beam electronen zijn?


Dat is enkel van belang als je primairy beam uit electronen bestaan omdat deze dan opstapelen op de toplaag van je materiaal. Een mogelijk oplossing hiervoor is dat je een klein laagje geleider aanbrengt. Dit is echter niet van toepassing bij Auger omdat je daar net het aller bovenste toplaagje opmeet en Auger is dus enkel te gebruiken bij een geleidend sample. Als alternatief voor Auger kan je XPS gebruiken, omdat dit ook gaat bij niet geleidende samples. Het nadeel van XPS is dat je een zwakke laterale resolutie hebt: de beste is ~3µm wat een factor 1000 verschil is met Auger.
Volgens mij is het ook daarom dat je ook AR XPS hebt omdat je daar door het tilten van je sample de analyse diepte aanpast
"Sakujo!"
Gebruikersavatar
yoachim
Prof in de forumwetenschappen
Prof in de forumwetenschappen
Berichten: 7725
Lid geworden op: 29 nov 2007, 20:44
Locatie: Halle

Re: Surface Analysis

Berichtdoor yoachim » 15 jan 2011, 18:05

Ruben schreef:
Bart Mus schreef:Hoezo, ik verwar AFM en STM?

Yoa heeft volgens mij gewoon niet goed je antwoord gelezen ;)
want ik zie niet in waarom je beide zou verwarren...


ge zegt in 1 zin de woorden current en cantilever. Current is toch bij STM en cantilever bij AFM?

en ja, repulsive forces bij <ro lijkt me logischt
Afbeelding
like a bouws
Afbeelding
Ur mom is so fat she doesn't need the internet, she's already world wide
Gebruikersavatar
yoachim
Prof in de forumwetenschappen
Prof in de forumwetenschappen
Berichten: 7725
Lid geworden op: 29 nov 2007, 20:44
Locatie: Halle

Re: Surface Analysis

Berichtdoor yoachim » 15 jan 2011, 18:06

Bart Mus schreef:
Ruben schreef:Moet het materiaal voor XPS geleidend zijn? Want we meten electronen dus ik veronderstel van wel. Of is dat enkel vn belang als je primary beam electronen zijn?


Dat is enkel van belang als je primairy beam uit electronen bestaan omdat deze dan opstapelen op de toplaag van je materiaal. Een mogelijk oplossing hiervoor is dat je een klein laagje geleider aanbrengt. Dit is echter niet van toepassing bij Auger omdat je daar net het aller bovenste toplaagje opmeet en Auger is dus enkel te gebruiken bij een geleidend sample. Als alternatief voor Auger kan je XPS gebruiken, omdat dit ook gaat bij niet geleidende samples. Het nadeel van XPS is dat je een zwakke laterale resolutie hebt: de beste is ~3µm wat een factor 1000 verschil is met Auger.
Volgens mij is het ook daarom dat je ook AR XPS hebt omdat je daar door het tilten van je sample de analyse diepte aanpast


en naast de hoek aan te passen kunne we ook lekker sprayen natuurlijk
Afbeelding
like a bouws
Afbeelding
Ur mom is so fat she doesn't need the internet, she's already world wide
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 15 jan 2011, 18:18

Sprayen?
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Gebruikersavatar
Ruben
Doctor in de forumwetenschappen
Doctor in de forumwetenschappen
Berichten: 4848
Lid geworden op: 20 dec 2007, 21:15
Locatie: Steenhuffel

Re: Surface Analysis

Berichtdoor Ruben » 15 jan 2011, 18:21

yoachim schreef:
Ruben schreef:
Bart Mus schreef:Hoezo, ik verwar AFM en STM?

Yoa heeft volgens mij gewoon niet goed je antwoord gelezen ;)
want ik zie niet in waarom je beide zou verwarren...


ge zegt in 1 zin de woorden current en cantilever. Current is toch bij STM en cantilever bij AFM?

en ja, repulsive forces bij <ro lijkt me logischt

Moet repulsive niet gewoon in het gebied vn positieve potentiaal zyn? Daar overheersen de aantrekkingskrachten toch?
Ruben - Delivering awesomeness since 1989
Gebruikersavatar
yoachim
Prof in de forumwetenschappen
Prof in de forumwetenschappen
Berichten: 7725
Lid geworden op: 29 nov 2007, 20:44
Locatie: Halle

Re: Surface Analysis

Berichtdoor yoachim » 15 jan 2011, 18:29

Ruben schreef:Sprayen?


bring on the ion bombard guns

"trommelgeroffel"

'ion-salvo'

zij die doodgesprayd zijn, kunnen u nu nimeer groeten


en kbegrijp u vraag ni goed vrees ik
Afbeelding
like a bouws
Afbeelding
Ur mom is so fat she doesn't need the internet, she's already world wide

Terug naar “Chemie en Materialen”

Wie is er online

Gebruikers op dit forum: Geen geregistreerde gebruikers en 1 gast

cron